CETCOR-MeV – Cs Korrektor für TEM (MeV Bereich)
Der CETCOR-MeV ist eine Variante des CETCORs, die speziell für den Einsatz in Transmissionselektronenmikroskopen bis in den MeV Bereich entwickelt wurde. Der CETCOR-MeV korrigiert die sphärische Aberration (Cs) und zudem alle Bildfehler bis zur 3. Ordnung (A1, B2, A2, C3, S3, A3). Der CETCOR-MeV ist einsetzbar für Hochspannungen von 400kV bis 1200kV. Bei 1200kV wird in Kombination mit einer cold-FEG ein Informationslimit von 44 pm erreicht. Der CETCOR-MeV eignet sich vor allem für hochauflösungs-TEM auf atomarer Ebene von materialwissenschaftlichen Proben.
Merkmale:
- Hexapol-Typ Cs Korrektor für Hochauflösungs-TEM bis in den MeV Bereich
- Automatische Korrektur aller axialer Bildfehler bis zur 3.Ordnung (A1, B2, A2, C3, S3, A3)
- Verschwindende Delokalisation im Bild
- In Kombination mit einer cold-FEG wird ein Informationslimit von besser als 44 pm (1200kV) erreicht
- Kompatibel mit folgenden TEMs: Hitachi 1.2MeV ultra-high-voltage electron microscope. Weitere auf Anfrage.
Technische Daten:
- Maße (HxBxT): 600 x 702 x 702 [mm]
- Mikroskopie-Modus: TEM
- Hochspannungsbereich: 400 - 1200kV
Anwendungsbereich:
Einsatz in der hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) bei hohen Beschleunigungsspannungen von 400kV bis 1200kV. Speziell im Bereich der Materialwissenschaften für besonders dicke Proben sowie zur Abbildung schwerer Elemente.
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