CEOS - Home
  • Home
  • Produkte
    • TEM Aberrations-Korrektoren
    • STEM Aberrations-Korrektoren
    • Monochromatoren
    • NanoSAM - Ultrahochvakuum-SEM Säule
    • Semcor - Cs/Cc Korrektor für CD-SEM
    • CEFID - Energiefilter
  • Forschung
    • Elektrostatischer Korrektor
    • Team Projekt
    • Atomare Auflösung für Jedermann?
  • Über uns
    • Dr. Max Haider
    • Dr. Joachim Zach
    • Dr. Stephan Uhlemann
    • Dr. Heiko Müller
    • Prof. Harald Rose
    • Labor
    • Firmengebäude
    • Ehrungen
  • Grundlagen
    • Erfinder
    • Vorteile
    • Funktionsprinzip
    • Mikroskoptypen
    • Scherzertheorem
    • Linsenfehler
    • Farbfehlerkorrektor
    • Phasenkontrast
    • Analysemethoden
  • Literatur
  • Links
  • Kontakt

ÜBER UNS

LABOR

Labor

Laboratory Dr. Haider und Dr. Zach diskutieren die neuesten Ergebnisse des TEAM Projektes.

CEOS AKTUELL
Elektronenenergieverlustspektroskopie für sehr hochenergetische Innerschalenanregungen

Forscher der Universität Lehigh (USA) und der Firmen JEOL (Japan) und CEOS GmbH mehr

Wir brauchen Verstärkung

CEOS bietet eine unbefristete Stelle als
Python Anwendungsentwickler(in).

Hohe Auszeichnung für Max Haider

Max Haider erhält den Kavli Preis 2020 im Bereich Nanoscience zusammen mit Harald Rose, Knut Urban mehr

Janis Köster erhält Harald Rose Preis 2019

Im Rahmen des Festakts zum 52. Jahrestag der Universität Ulm
mehr.

Fellows der Microscopy Society of America

Max. Haider wurde als einer der Mitglieder der Class 2019 Fellows der Microscopy
mehr.

CPO 10

CEOS has recently presented first results about its newly developed imaging energy filter
weiterlesen.

Lithium-Atome auf Wanderschaft

Das SALVE Team konnte Mechanismen des Lithiumtransportes
weiterlesen.

Abbildung von magnetischem Dichroismus im PICO Mikroskop

Zechao Wang berichtet über eine Abbildungstechnik, die so nur in einem farbfehlerkorrierten Mikroskop möglich ist weiterlesen

Beobachtung magnetischer Felder im öffnungsfehlerkorrigierten Megavolt-Mikroskop

Am weltweit einzigen öffnungsfehlerkorrigierten Megavolt-Mikroskop wurden hochauflösende Beobachtungen weiterlesen

ältere Nachrichten

  • CEOS GmbH
  • Tel.: +49 6221 89467-0
  • E-Mail: info@ceos-gmbh.de
  • Kontakt
  • Impressum
  • Datenschutz