Ein Transmissionsmikroskop mit Öffnungsfehlerkorrektur hat eine Punktauflösung, deren Größe gleich dem Informationslimit des Mikroskops ist. Bei der Abbildung nichtperiodischer Probenbereiche im Phasenkontrast stören demnach weder Artefakte noch Delokalisierungseffekte. Erste Anwendungen, in denen dieser Vorteil zum Tragen kommt, gab es im Forschungszentrum in Jülich. Dort wurde der Entwicklungsprototyp des CEOS-Korrektors eingesetzt.
Mittlerweile ist das Ernst Ruska Zentrum in Jülich sehr erfahren in der Anwendung eines korrigierten Transmissionsmikroskopes. Aufsehenerregende Ergebnisse mit dem Prototypkorrektor - wie zum Beispiel die Sichtbarmachung einzelner Sauerstoffatome - wurden von der Jülich Gruppe veröffentlicht.
Einige interessante Aufnahmen des Ernst Ruska Zentrums können hier angesehen werden.
Wir haben einen Artikel über die Abbildungsmöglichkeiten mit dem Korrektor und über die Korrektur des Öffnungsfehlers fünfter Ordnung (C5) auf der EMC 2004 in Antwerpen veröffentlicht. Lesen Sie einen Auszug der Ergebnisse!
Öffnungsfehlerkorrektoren sind jetzt für die meisten hoch entwickelten TEMs und STEMs erhältlich. Die wichtigsten Instrumentenhersteller konnten mit ihren korrigierten Instrumenten sub-Ångstrøm Auflösung erreichen. Falls Sie sich für Details interessieren, können Sie folgende Links benutzen(Auflistung in alphabetischer Reihenfolge):
Falls Sie an weiteren Belegen interessiert sind, können Sie die Mikroskophersteller kontaktieren (siehe Linksammlung.