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CEOS bietet eine Dauerstelle als Service Engineer (S)TEM or SEM an. Einzelheiten finden Sie hier.


Salve III Projekt erfolgreich abgeschlossen

Die Entwicklung des Cc/Cs-korrigierten Niederspannungs-Elektronenmikroskops wurde erfolgreich abgeschlossen. Die Universität Ulm informierte über die Endabnahme des Geräts in einer Pressemitteilung, in der die Leistungsfähigkeit des Geräts ausführlich vorgestellt wird. Die Korrekturprinzipien und die erzielte Auflösung werden in einem Artikel in PRL und auf der Homepage des SALVE-Projekts diskutiert..


Harald Rose Preis verliehen

Der von CEOS gestiftete Preis für herausragende Masterarbeiten aus den Bereichen Bildgebende oder Analytische Verfahren, Angewandte Physik, Materialwissenschaft oder Chemie, die einen Bezug zur Elektronenmikroskopie haben, wurde im vergangenen November erstmals vergeben. Ausgezeichnet wurde Daniel Ohl de Mello für seine Masterarbeit "Experimental demonstration of 100+ qubit registers and fast atom transport". Näheres zur Verleigungsfeier finden Sie hier.

Ein neues Zeitalter der Elektronenmikroskopie bricht an:


Abbilden und Messen mit atomarer Auflösung


Seventy-five years after its invention, transmission electron microscopy has taken a great step forward with the introduction of aberration-corrected electron optics.

Prof. Knut Urban
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Siebzig Jahre nach seiner Erfindung hat die Transmissionselektronenmikroskopie mit der Einführung der aberrationskorrigierten Elektronenoptik einen großen Schritt nach vorne getan.

Die Schlüsseltechnologie für diesen Fortschritt sind Korrektoren von CEOS.


CEOS wurde 1996 von Maximilian Haider und Joachim Zach gegründet. CEOS erforscht, entwickelt und produziert hoch entwickelte optische Komponenten für Elektronenmikroskope.
Dazu gehören Korrektoren für Farb-, Öffnungs- und Komafehler sowie Monochromatoren.

Inzwischen ist die Firma zum weltweit führenden Hersteller von Korrektoren für Elektronenmikroskope aufgestiegen.

Betreten Sie die Welt der Mikroskopie im Picometer Bereich und besuchen Sie unsere Webseiten.

Unter dem Verweis Grundlagen finden Sie Erläuterungen zu grundlegenden Themen der Elektronenmikroskopie.

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